pretražni mikroskop s tuneliranjem (STM, akronim od engl. scanning tunneling microscope), mikroskop kojim se promatraju površine metala i drugih električki vodljivih materijala preciznošću na razini atoma. Najvažniji je dio STM-a oštri vrh od volframa, platine, iridija, ugljikove nanocijevi ili nekog drugog vodljivoga materijala koji u idealnom slučaju čini samo jedan ili nekoliko atoma. Kada je vrh blizu površine (nanometar i manje), u vakuumu između vrha i površine elektroni tuneliraju. Kako se vrh pomiče duž površine, zbog površinskih nepravilnosti i nehomogenosti na razini atoma, udaljenost i električna struja između vrha i površine se mijenjaju, a promjena jakosti struje može se interpretirati kao slika površine. Za otkriće STM-a Gerd Binnig i Heinrich Rohrer dobili su Nobelovu nagradu za fiziku 1986.
